Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYS...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
Export abgeschlossen —
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTORS
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Cerezo, A
,
Grovenor, C
,
Smith, G
Format:
Journal article
Idioma:
English
Publicat:
1986
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
per: Mackenzie, R, et al.
Publicat: (1990)
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
per: Cerezo, A, et al.
Publicat: (1986)
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
per: Grovenor, C, et al.
Publicat: (1987)
Accuracy of pulsed laser atom probe tomography for compound semiconductor analysis
per: Mueller, M, et al.
Publicat: (2011)
Compositional nonuniformities in pulsed laser atom probe tomography analysis of compound semiconductors
per: Mueller, M, et al.
Publicat: (2012)