Siirry sisältöön
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Kieli
Kaikki kentät
Nimeke
Tekijä
Aihe
Hyllypaikka
ISBN/ISSN
Tagi
Hae
Tarkennettu
Some recent advances in three...
Sitaatti
Tekstiviesti
Lähetä sähköpostilla
Tulosta
Vie tietue
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Pysyvä linkki
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
Bibliografiset tiedot
Päätekijät:
Cerezo, A
,
Smith, G
,
Setna, R
,
Hyde, J
Aineistotyyppi:
Conference item
Julkaistu:
1994
Saatavuustiedot
Kuvaus
Samankaltaisia teoksia
Henkilökuntanäyttö
Samankaltaisia teoksia
RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
Tekijä: Smith, G, et al.
Julkaistu: (1994)
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
Tekijä: Godfrey, T, et al.
Julkaistu: (1989)
RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
Tekijä: Grovenor, C, et al.
Julkaistu: (1985)
RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
Tekijä: Grovenor, C, et al.
Julkaistu: (1990)
RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
Tekijä: Grovenor, C, et al.
Julkaistu: (1990)