Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
Some recent advances in three...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:
Cerezo, A
,
Smith, G
,
Setna, R
,
Hyde, J
Formatua:
Conference item
Argitaratua:
1994
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Deskribapena
Gaia:
Antzeko izenburuak
RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
nork: Smith, G, et al.
Argitaratua: (1994)
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
nork: Godfrey, T, et al.
Argitaratua: (1989)
RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
nork: Grovenor, C, et al.
Argitaratua: (1985)
RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
nork: Grovenor, C, et al.
Argitaratua: (1990)
RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
nork: Grovenor, C, et al.
Argitaratua: (1990)