Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)

Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)

מידע ביבליוגרפי
Main Authors:	Cerezo, A, Smith, G, Setna, R, Hyde, J
פורמט:	Conference item
יצא לאור:	1994

פריטים דומים

RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
מאת: Smith, G, et al.
יצא לאור: (1994)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
מאת: Godfrey, T, et al.
יצא לאור: (1989)

RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1985)

RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1990)

RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1990)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE DETECTOR TO ATOM PROBE MICROANALYSIS
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1988)

LATERAL AND DEPTH SCALE CALIBRATION OF THE POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE
מאת: Hyde, J, et al.
יצא לאור: (1994)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1983)

Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (2001)

TRACE-ELEMENT DETECTION AT THE ATOMIC LEVEL BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
מאת: Beaven, P, et al.
יצא לאור: (1980)

APPLICATIONS OF ATOM-PROBE MICROANALYSIS IN MATERIALS SCIENCE
מאת: Miller, M, et al.
יצא לאור: (1994)

NEW DIMENSIONS IN ATOM-PROBE ANALYSIS
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1992)

ATOMIC-SCALE CHARACTERIZATION OF PRECIPITATION IN COPPER COBALT ALLOYS
מאת: Setna, R, et al.
יצא לאור: (1994)

QUANTITATIVE STUDY OF SOLID-STATE REACTIONS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
מאת: Smith, G
יצא לאור: (1987)

IMPROVEMENTS IN 3-DIMENSIONAL ATOM-PROBE DESIGN
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1994)

Overview: Recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (2007)

Overview: recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications.
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (2007)

Microanalysis at the atomic level
מאת: Pennycook, S, et al.
יצא לאור: (1995)

Improvements in the mass resolution of the three-dimensional atom probe
מאת: Sijbrandij, S, et al.
יצא לאור: (1996)

POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE STUDY OF THE DECOMPOSITION OF A CU-2.6AT-PERCENT-CO ALLOY
מאת: Setna, R, et al.
יצא לאור: (1993)

Performance of an energy-compensated three-dimensional atom probe
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1998)

Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
מאת: Larson, D, et al.
יצא לאור: (1999)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
מאת: Grovenor, C, et al.
יצא לאור: (1992)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF NB3SN WIRES
מאת: Rose, J, et al.
יצא לאור: (1986)

Applications of a high-resolution three dimensional atom probe
מאת: Smith, G, et al.
יצא לאור: (1997)

Materials applications of an advanced 3-dimensional atom probe
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1996)

A FIM ATOM PROBE STUDY OF VANADIUM OXIDATION
מאת: Setna, R, et al.
יצא לאור: (1989)

Optimisation of mass ranging for atom probe microanalysis and application to the corrosion processes in Zr alloys.
מאת: Hudson, D, et al.
יצא לאור: (2011)

Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM
מאת: Smith, G, et al.
יצא לאור: (1998)

Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
מאת: Vurpillot, F, et al.
יצא לאור: (2004)

Measurement of temperature rises in the femtosecond laser pulsed three-dimensional atom probe
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (2006)

Measurement of temperature rises in the femtosecond laser pulsed three-dimensional atom probe
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (2006)

Three-dimensional atomic scale analysis of interfaces
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1999)

STATISTICAL-ANALYSIS OF ATOM PROBE DATA
מאת: Hetherington, M, et al.
יצא לאור: (1986)

STRUCTURAL-ANALYSIS WITH THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
מאת: Hetherington, M, et al.
יצא לאור: (1992)

Automobile exhaust catalysis at the atomic scale: atom-probe investigations on platinum alloys
מאת: Bagot, P, et al.
יצא לאור: (2007)

Recent advances in atomic resolution three-dimensional holography
מאת: Hiroshi Daimon, et al.
יצא לאור: (2024-12-01)

ANALYSIS OF DATA FROM AN OPTICAL ATOM-PROBE
מאת: Cooper, A, et al.
יצא לאור: (1994)

Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (2001)

VISUALIZATION AND ANALYSIS OF 3-DIMENSIONAL ATOM PROBE DATA
מאת: Cerezo, A, et al.
יצא לאור: (1989)