Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)

Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)

Bibliografiset tiedot
Päätekijät:	Cerezo, A, Smith, G, Setna, R, Hyde, J
Aineistotyyppi:	Conference item
Julkaistu:	1994

Samankaltaisia teoksia

RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
Tekijä: Smith, G, et al.
Julkaistu: (1994)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
Tekijä: Godfrey, T, et al.
Julkaistu: (1989)

RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
Tekijä: Grovenor, C, et al.
Julkaistu: (1985)

RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
Tekijä: Grovenor, C, et al.
Julkaistu: (1990)

RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
Tekijä: Grovenor, C, et al.
Julkaistu: (1990)

LATERAL AND DEPTH SCALE CALIBRATION OF THE POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE
Tekijä: Hyde, J, et al.
Julkaistu: (1994)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE DETECTOR TO ATOM PROBE MICROANALYSIS
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1988)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Tekijä: Grovenor, C, et al.
Julkaistu: (1983)

Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (2001)

TRACE-ELEMENT DETECTION AT THE ATOMIC LEVEL BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
Tekijä: Beaven, P, et al.
Julkaistu: (1980)

APPLICATIONS OF ATOM-PROBE MICROANALYSIS IN MATERIALS SCIENCE
Tekijä: Miller, M, et al.
Julkaistu: (1994)

NEW DIMENSIONS IN ATOM-PROBE ANALYSIS
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1992)

ATOMIC-SCALE CHARACTERIZATION OF PRECIPITATION IN COPPER COBALT ALLOYS
Tekijä: Setna, R, et al.
Julkaistu: (1994)

QUANTITATIVE STUDY OF SOLID-STATE REACTIONS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
Tekijä: Smith, G
Julkaistu: (1987)

IMPROVEMENTS IN 3-DIMENSIONAL ATOM-PROBE DESIGN
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1994)

Overview: Recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (2007)

Overview: recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications.
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (2007)

Microanalysis at the atomic level
Tekijä: Pennycook, S, et al.
Julkaistu: (1995)

Improvements in the mass resolution of the three-dimensional atom probe
Tekijä: Sijbrandij, S, et al.
Julkaistu: (1996)

POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE STUDY OF THE DECOMPOSITION OF A CU-2.6AT-PERCENT-CO ALLOY
Tekijä: Setna, R, et al.
Julkaistu: (1993)

Performance of an energy-compensated three-dimensional atom probe
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1998)

Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
Tekijä: Larson, D, et al.
Julkaistu: (1999)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
Tekijä: Grovenor, C, et al.
Julkaistu: (1992)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF NB3SN WIRES
Tekijä: Rose, J, et al.
Julkaistu: (1986)

Applications of a high-resolution three dimensional atom probe
Tekijä: Smith, G, et al.
Julkaistu: (1997)

Materials applications of an advanced 3-dimensional atom probe
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1996)

A FIM ATOM PROBE STUDY OF VANADIUM OXIDATION
Tekijä: Setna, R, et al.
Julkaistu: (1989)

Optimisation of mass ranging for atom probe microanalysis and application to the corrosion processes in Zr alloys.
Tekijä: Hudson, D, et al.
Julkaistu: (2011)

Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM
Tekijä: Smith, G, et al.
Julkaistu: (1998)

Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
Tekijä: Vurpillot, F, et al.
Julkaistu: (2004)

Measurement of temperature rises in the femtosecond laser pulsed three-dimensional atom probe
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (2006)

Measurement of temperature rises in the femtosecond laser pulsed three-dimensional atom probe
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (2006)

Three-dimensional atomic scale analysis of interfaces
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1999)

STATISTICAL-ANALYSIS OF ATOM PROBE DATA
Tekijä: Hetherington, M, et al.
Julkaistu: (1986)

STRUCTURAL-ANALYSIS WITH THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
Tekijä: Hetherington, M, et al.
Julkaistu: (1992)

Automobile exhaust catalysis at the atomic scale: atom-probe investigations on platinum alloys
Tekijä: Bagot, P, et al.
Julkaistu: (2007)

Recent advances in atomic resolution three-dimensional holography
Tekijä: Hiroshi Daimon, et al.
Julkaistu: (2024-12-01)

ANALYSIS OF DATA FROM AN OPTICAL ATOM-PROBE
Tekijä: Cooper, A, et al.
Julkaistu: (1994)

Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (2001)

VISUALIZATION AND ANALYSIS OF 3-DIMENSIONAL ATOM PROBE DATA
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1989)