تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
Some recent advances in three...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:
Cerezo, A
,
Smith, G
,
Setna, R
,
Hyde, J
التنسيق:
Conference item
منشور في:
1994
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
مواد مشابهة
RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
حسب: Smith, G, وآخرون
منشور في: (1994)
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
حسب: Godfrey, T, وآخرون
منشور في: (1989)
RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1985)
RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1990)
RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1990)