High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography
Radiation damage places a fundamental limitation on the ability of microscopy to resolve many types of materials at high resolution. Here we evaluate the dose efficiency of phase contrast imaging with electron ptychography. The method is found to be far more resilient to temporal incoherence than co...
Những tác giả chính: | Pennycook, TJ, Martinez, GT, Nellist, PD, Meyer, JC |
---|---|
Định dạng: | Journal article |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
Elsevier
2018
|
Những quyển sách tương tự
-
Atomic-scale imaging of polyvinyl alcohol crystallinity using electron ptychography
Bằng: Hao, B, et al.
Được phát hành: (2023) -
Deterministic electron ptychography at atomic resolution
Bằng: D'Alfonso, A, et al.
Được phát hành: (2014) -
Simultaneous atomic-resolution electron ptychography and Z-contrast imaging of light and heavy elements in complex nanostructures
Bằng: Yang, H, et al.
Được phát hành: (2016) -
Applications of low dose electron ptychography
Bằng: Kirkland, A, et al.
Được phát hành: (2022) -
Contrast transfer and noise minimization in electron ptychography
Bằng: O'Leary, CM, et al.
Được phát hành: (2019)