High dose efficiency atomic resolution imaging via electron ptychography

Radiation damage places a fundamental limitation on the ability of microscopy to resolve many types of materials at high resolution. Here we evaluate the dose efficiency of phase contrast imaging with electron ptychography. The method is found to be far more resilient to temporal incoherence than co...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Pennycook, TJ, Martinez, GT, Nellist, PD, Meyer, JC
Định dạng: Journal article
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Elsevier 2018

Những quyển sách tương tự