Electron channeling and ion channeling contrast imaging of dislocations in nitride thin films

অনুরূপ উপাদানগুলি

• Electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging of tilt and dislocations in nitride thin films
  অনুযায়ী: Trager-Cowan, C, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (2007)
• Characterisation of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging
  অনুযায়ী: Trager-Cowan, C, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (2006)
• Characterization of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging
  অনুযায়ী: Trager-Cowan, C, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (2006)
• Rapid nondestructive analysis of threading dislocations in wurtzite materials using the scanning electron microscope.
  অনুযায়ী: Naresh-Kumar, G, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (2012)
• Cross-correlation based high resolution electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging for strain mapping and dislocation distributions in InAlN thin films
  অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (2016)