İçeriği atla
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Dil
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
Electron channeling and ion ch...
Alıntıla
Telefona gönder
E-posta Gönder
Yazdır
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
Kalıcı bağlantı
Electron channeling and ion channeling contrast imaging of dislocations in nitride thin films
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:
Trager-Cowan, C
,
Edwards, P
,
Dynowski, F
,
Sweeney, F
,
Wilkinson, A
,
Winkelmann, A
,
Day, A
,
Wang, T
,
Parbrook, P
,
Watson, I
,
Joy, D
Materyal Türü:
Journal article
Baskı/Yayın Bilgisi:
2008
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Diğer Bilgiler
Özet:
Benzer Materyaller
Electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging of tilt and dislocations in nitride thin films
Yazar:: Trager-Cowan, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)
Characterisation of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging
Yazar:: Trager-Cowan, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2006)
Characterization of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging
Yazar:: Trager-Cowan, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2006)
Rapid nondestructive analysis of threading dislocations in wurtzite materials using the scanning electron microscope.
Yazar:: Naresh-Kumar, G, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)
Cross-correlation based high resolution electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging for strain mapping and dislocation distributions in InAlN thin films
Yazar:: Wilkinson, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2016)