تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
Electron channeling and ion ch...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
Electron channeling and ion channeling contrast imaging of dislocations in nitride thin films
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:
Trager-Cowan, C
,
Edwards, P
,
Dynowski, F
,
Sweeney, F
,
Wilkinson, A
,
Winkelmann, A
,
Day, A
,
Wang, T
,
Parbrook, P
,
Watson, I
,
Joy, D
التنسيق:
Journal article
منشور في:
2008
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
مواد مشابهة
Electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging of tilt and dislocations in nitride thin films
حسب: Trager-Cowan, C, وآخرون
منشور في: (2007)
Characterisation of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging
حسب: Trager-Cowan, C, وآخرون
منشور في: (2006)
Characterization of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging
حسب: Trager-Cowan, C, وآخرون
منشور في: (2006)
Rapid nondestructive analysis of threading dislocations in wurtzite materials using the scanning electron microscope.
حسب: Naresh-Kumar, G, وآخرون
منشور في: (2012)
Cross-correlation based high resolution electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging for strain mapping and dislocation distributions in InAlN thin films
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (2016)