تخطي إلى المحتوى
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
    • Sámegiella
    • Монгол
بحث متقدم
  • Electron channeling and ion ch...
  • استشهد بهذا
  • أرسل هذا في رسالة قصيرة
  • أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
  • طباعة
  • تصدير التسجيلة
    • تصدير إلى RefWorks
    • تصدير إلى EndNoteWeb
    • تصدير إلى EndNote
  • رابط دائم
Electron channeling and ion channeling contrast imaging of dislocations in nitride thin films

Electron channeling and ion channeling contrast imaging of dislocations in nitride thin films

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Trager-Cowan, C, Edwards, P, Dynowski, F, Sweeney, F, Wilkinson, A, Winkelmann, A, Day, A, Wang, T, Parbrook, P, Watson, I, Joy, D
التنسيق: Journal article
منشور في: 2008
  • المقتنيات
  • الوصف
  • مواد مشابهة
  • عرض للأخصائي

مواد مشابهة

  • Electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging of tilt and dislocations in nitride thin films
    حسب: Trager-Cowan, C, وآخرون
    منشور في: (2007)
  • Characterisation of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging
    حسب: Trager-Cowan, C, وآخرون
    منشور في: (2006)
  • Characterization of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging
    حسب: Trager-Cowan, C, وآخرون
    منشور في: (2006)
  • Rapid nondestructive analysis of threading dislocations in wurtzite materials using the scanning electron microscope.
    حسب: Naresh-Kumar, G, وآخرون
    منشور في: (2012)
  • Cross-correlation based high resolution electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging for strain mapping and dislocation distributions in InAlN thin films
    حسب: Wilkinson, A, وآخرون
    منشور في: (2016)

خيارات البحث

  • سجل البحث
  • بحث متقدم

ابحث عن المزيد

  • استعراض الفهرس
  • استعرض أبجدياً
  • اكتشف القنوات
  • الحجز الأكاديمي
  • مواد جديدة

تحتاج مساعدة ؟

  • إرشادات حول معاملات البحث
  • إسأل أخصائي مكتبات
  • الأسئلة الشائعة