Quantitative electron ptychography for simultaneous light and heavy elements atom counting
Автори: | Liberti, E, Moya, AN, Treder, KP, O'Leary, CM, Kim, JS, Nellist, PD, Kirkland, AI |
---|---|
Формат: | Conference item |
Мова: | English |
Опубліковано: |
International Union of Crystallography
2022
|
Схожі ресурси
-
Contrast transfer and noise minimization in electron ptychography
за авторством: O'Leary, CM, та інші
Опубліковано: (2019) -
Contrast transfer and noise considerations in focused-probe electron ptychography
за авторством: O'Leary, CM, та інші
Опубліковано: (2020) -
Applications of low dose electron ptychography
за авторством: Kirkland, A, та інші
Опубліковано: (2022) -
Quantitative comparison of HRTEM and electron ptychography
за авторством: Bennemann Felix, та інші
Опубліковано: (2024-01-01) -
A new approach for 3D quantitative STEM using defocus corrected electron ptychography
за авторством: Mostaed, A, та інші
Опубліковано: (2022)