Quantitative electron ptychography for simultaneous light and heavy elements atom counting
Những tác giả chính: | Liberti, E, Moya, AN, Treder, KP, O'Leary, CM, Kim, JS, Nellist, PD, Kirkland, AI |
---|---|
Định dạng: | Conference item |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
International Union of Crystallography
2022
|
Những quyển sách tương tự
Những quyển sách tương tự
-
Contrast transfer and noise minimization in electron ptychography
Bằng: O'Leary, CM, et al.
Được phát hành: (2019) -
Contrast transfer and noise considerations in focused-probe electron ptychography
Bằng: O'Leary, CM, et al.
Được phát hành: (2020) -
Applications of low dose electron ptychography
Bằng: Kirkland, A, et al.
Được phát hành: (2022) -
Quantitative comparison of HRTEM and electron ptychography
Bằng: Bennemann Felix, et al.
Được phát hành: (2024-01-01) -
A new approach for 3D quantitative STEM using defocus corrected electron ptychography
Bằng: Mostaed, A, et al.
Được phát hành: (2022)