Quantitative electron ptychography for simultaneous light and heavy elements atom counting
Հիմնական հեղինակներ: | Liberti, E, Moya, AN, Treder, KP, O'Leary, CM, Kim, JS, Nellist, PD, Kirkland, AI |
---|---|
Ձևաչափ: | Conference item |
Լեզու: | English |
Հրապարակվել է: |
International Union of Crystallography
2022
|
Նմանատիպ նյութեր
-
Contrast transfer and noise minimization in electron ptychography
: O'Leary, CM, և այլն
Հրապարակվել է: (2019) -
Contrast transfer and noise considerations in focused-probe electron ptychography
: O'Leary, CM, և այլն
Հրապարակվել է: (2020) -
Applications of low dose electron ptychography
: Kirkland, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2022) -
Quantitative comparison of HRTEM and electron ptychography
: Bennemann Felix, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-01-01) -
A new approach for 3D quantitative STEM using defocus corrected electron ptychography
: Mostaed, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2022)