The formation mechanism of aluminum oxide tunnel barriers: Three-dimensional atom probe analysis

The formation mechanism of aluminum oxide tunnel barriers: Three-dimensional atom probe analysis

Magnetic tunnel junctions have applications in a range of spin-electronic devices. The functional properties of such devices are critically dependant on the nanoscale morphology of the insulating barrier (usually only a few atomic layers thick) that separates two ferromagnetic layers. Here we report...

Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:	Petford-Long, A, Ma, Y, Cerezo, A, Larson, D, Singleton, E, Karr, B
Materyal Türü:	Journal article
Dil:	English
Baskı/Yayın Bilgisi:	2005

Benzer Materyaller

The formation mechanism of aluminium oxide tunnel barriers
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2006)

Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
Yazar:: Larson, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)

Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
Yazar:: Larson, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2004)

Three-dimensional atom probe field-ion microscopy observation of Cu/Co multilayer film structures
Yazar:: Larson, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1998)

Three-dimensional atom probe investigation of boron distribution in CoFeB/MgO/CoFeB magnetic tunnel junctions
Yazar:: Pinitsoontorn, S, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)

Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2001)

Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
Yazar:: Vurpillot, F, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2004)

Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2001)

Improvements in the mass resolution of the three-dimensional atom probe
Yazar:: Sijbrandij, S, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1996)

Focused ion-beam specimen preparation for atom probe field-ion microscopy characterization of multilayer film structures
Yazar:: Larson, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)

Performance of an energy-compensated three-dimensional atom probe
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1998)

Atom probe analysis of roughness and chemical intermixing in CoFe/Cu films (invited)
Yazar:: Larson, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2001)

Applications of a high-resolution three dimensional atom probe
Yazar:: Smith, G, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1997)

Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1994)

Measurement of temperature rises in the femtosecond laser pulsed three-dimensional atom probe
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2006)

Measurement of temperature rises in the femtosecond laser pulsed three-dimensional atom probe
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2006)

Overview: Recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Overview: recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications.
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

A procedure for quantification of precipitate microstructures from three-dimensional atom probe data.
Yazar:: Vaumousse, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2003)

VISUALIZATION AND ANALYSIS OF 3-DIMENSIONAL ATOM PROBE DATA
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1989)

Aspects of the observation of clusters in the 3-dimensional atom probe
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

IMPROVEMENTS IN 3-DIMENSIONAL ATOM-PROBE DESIGN
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1994)

Three-dimensional atomic scale analysis of interfaces
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)

Materials applications of an advanced 3-dimensional atom probe
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1996)

Spectrum imaging and three-dimensional atom probe studies of fine particles in a vanadium micro-alloyed steel
Yazar:: Craven, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)

Three-dimensional atom probe characterization of alloy element partitioning in cementite during tempering of alloy steel.
Yazar:: Zhu, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Atom-Probe Tomographic Studies of Thin Films and Multilayers
Yazar:: Larson, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)

Aspects of the performance of a femtosecond laser-pulsed 3-dimensional atom probe.
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Three-dimensional atom probe analysis of green- and blue-emitting In(x)Ga(1-x)N/GaN multiple quantum well structures
Yazar:: Galtrey, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)

Lattice rectification in atom probe tomography: toward true three-dimensional atomic microscopy.
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Three-dimensional atomic mapping of ligands on palladium nanoparticles by atom probe tomography
Yazar:: Kyuseon Jang, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2021-07-01)

Atomic-scale analysis of CoFe/Cu and CoFe/NiFe interfaces
Yazar:: Larson, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2000)

The role of atomic scale investigation in the development of nanoscale materials for information storage applications.
Yazar:: Petford-Long, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2004)

EINZEL LENSES IN ATOM PROBE DESIGNS
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1991)

Contingency table techniques for three dimensional atom probe tomography.
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Effect of atomic structure on the electrical response of aluminum oxide tunnel junctions
Yazar:: M. J. Cyster, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2020-01-01)

A three-dimensional Markov field approach for the analysis of atomic clustering in atom probe data
Yazar:: Ceguerra, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

Atom probe tomography today
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Atom probe tomography today
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Microstructural investigation of Cu/Co multilayer films
Yazar:: Larson, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)