ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON

ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON

Palladium silicide coated silicon specimens have been formed by thermally evaporating palladium onto clean field evaporated n-type silicon (100) tips. The thin palladium overlayer is reacted to form palladium silicide by thermal annealing at 675 K. The tips were studied by field ion imaging, pulsed...

Повний опис

Бібліографічні деталі
Автори:	King, R, Mackenzie, R, Smith, G, Cade, N
Формат:	Conference item
Опубліковано:	1995

Схожі ресурси

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM-SILICIDE-COATED SILICON EMITTERS
за авторством: King, R, та інші
Опубліковано: (1995)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE COATED SILICON EMITTERS
за авторством: King, R, та інші
Опубліковано: (1994)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE ANALYSIS OF GRIDDED SILICON FIELD EMITTERS
за авторством: Huang, M, та інші
Опубліковано: (1994)

ATOM-PROBE ANALYSIS AND FIELD-EMISSION STUDIES OF SILICON
за авторством: King, R, та інші
Опубліковано: (1994)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM PROBE STUDIES OF METALLIC GLASSES
за авторством: Bhatti, A, та інші
Опубліковано: (1985)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
за авторством: Godfrey, T, та інші
Опубліковано: (1989)

Silicon and silicide nanowires : applications, fabrication, and properties /
за авторством: Huang, Yu, editor, та інші
Опубліковано: (2014)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1992)

AN ATOM PROBE STUDY OF THE ANOMALOUS FIELD EVAPORATION OF ALLOYS CONTAINING SILICON
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1981)

Study of Silicide Formation in Large Diameter Monocrystalline Silicon
за авторством: Abdugafur T. Mamadalimov, та інші
Опубліковано: (2024-06-01)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1983)

Study of optical and luminescence properties of silicon — semiconducting silicide — silicon multilayer nanostructures
за авторством: Galkin N.G., та інші
Опубліковано: (2017-01-01)

Properties of “Higher Manganese Silicide-Silicon” Heterostructure
за авторством: Kobiljon K. ugli Kurbonaliev, та інші
Опубліковано: (2023-09-01)

Characterization of oxidation and reduction of a Palladium-Rhodium alloy by atom-probe tomography
за авторством: Li, T, та інші
Опубліковано: (2012)

Characterization of Oxidation and Reduction of a Palladium-Rhodium Alloy by Atom-Probe Tomography
за авторством: Li, T, та інші
Опубліковано: (2012)

Three-dimensional atomic mapping of ligands on palladium nanoparticles by atom probe tomography
за авторством: Kyuseon Jang, та інші
Опубліковано: (2021-07-01)

AN ATOM PROBE STUDY OF THE ANOMALOUS EVAPORATION OF ALLOYS CONTAINING SILICON
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1980)

In situ atomic-level observation of the formation of platinum silicide at platinum-silicon oxide interfaces under electron irradiation
за авторством: Takeshi Nagase, та інші
Опубліковано: (2018-05-01)

FRACTURE OF FIELD-ION MICROSCOPE SPECIMENS
за авторством: Wilkes, T, та інші
Опубліковано: (1972)

Pulsed Ion Microscope to Probe Quantum Gases
за авторством: C. Veit, та інші
Опубліковано: (2021-02-01)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF NB3SN WIRES
за авторством: Rose, J, та інші
Опубліковано: (1986)

Erbium silicided schottky source/drain silicon nanowire N-metal–oxide–semiconductor field-effect transistors
за авторством: Tan, Eu Jin, та інші
Опубліковано: (2013)

THE CHARACTERIZATION OF SILICON SURFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE ANALYSIS
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1982)

INVESTIGATIONS OF METAL-SILICON INTERFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE.
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1983)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM-PROBE ANALYSIS OF THE EFFECT OF RRA HEAT-TREATMENT ON THE MATRIX STRENGTHENING PRECIPITATES IN ALLOY AL-7150
за авторством: Warren, P, та інші
Опубліковано: (1992)

Development of metal silicides for deep submicron polycrystalline silicon gate
за авторством: Pang, Chong Hau
Опубліковано: (2008)

Obtaining manganese silicide films on a silicon substrate by the diffusion method
за авторством: N. F. Zikrillayev, та інші
Опубліковано: (2022-10-01)

Publisher Correction: Three-dimensional atomic mapping of ligands on palladium nanoparticles by atom probe tomography
за авторством: Kyuseon Jang, та інші
Опубліковано: (2021-09-01)

Bringing atom probe tomography to transmission electron microscopes
за авторством: Gerald Da Costa, та інші
Опубліковано: (2024-11-01)

Nanoscale Microstructural Analyses by Atom Probe Field Ion Microscopy
за авторством: Hono, K., та інші
Опубліковано: (1998-01-01)

ANALOG INVESTIGATIONS OF ELECTRIC-FIELD DISTRIBUTION AND ION TRAJECTORIES IN FIELD-ION MICROSCOPE
за авторством: Birdseye, P, та інші
Опубліковано: (1974)

A STUDY OF THE EARLY STAGES OF TEMPERING OF IRON-CARBON MARTENSITES BY ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1981)

ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY STUDY OF AGING BEHAVIOR OF A CO-FREE MARAGING-STEEL
за авторством: Sha, W, та інші
Опубліковано: (1991)

Focused ion-beam specimen preparation for atom probe field-ion microscopy characterization of multilayer film structures
за авторством: Larson, D, та інші
Опубліковано: (1999)

ANALYSIS OF DATA FROM AN OPTICAL ATOM-PROBE
за авторством: Cooper, A, та інші
Опубліковано: (1994)

Controlled and explosive silicidation of metal/amorphous-silicon multilayer thin films
за авторством: Clevenger, Lawrence Alfred
Опубліковано: (2005)

Vertical silicon nanowire diode with nickel silicide induced dopant segregation
за авторством: Li, Xiang, та інші
Опубліковано: (2013)

Ni(Pt) alloy silicidation on (100) Si and poly-silicon lines
за авторством: Pey, Kin Leong, та інші
Опубліковано: (2013)

OBTAINING A CATHODE TARGET OF SILICIDES FOR VACUUM ION-PLASMA SOURCES
за авторством: I. A. Ivanov, та інші
Опубліковано: (2018-07-01)

Imaging of radiation damage using complementary field ion microscopy and atom probe tomography.
за авторством: Dagan, M, та інші
Опубліковано: (2015)