ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON

ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON

Palladium silicide coated silicon specimens have been formed by thermally evaporating palladium onto clean field evaporated n-type silicon (100) tips. The thin palladium overlayer is reacted to form palladium silicide by thermal annealing at 675 K. The tips were studied by field ion imaging, pulsed...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	King, R, Mackenzie, R, Smith, G, Cade, N
التنسيق:	Conference item
منشور في:	1995

مواد مشابهة

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM-SILICIDE-COATED SILICON EMITTERS
حسب: King, R, وآخرون
منشور في: (1995)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE COATED SILICON EMITTERS
حسب: King, R, وآخرون
منشور في: (1994)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE ANALYSIS OF GRIDDED SILICON FIELD EMITTERS
حسب: Huang, M, وآخرون
منشور في: (1994)

ATOM-PROBE ANALYSIS AND FIELD-EMISSION STUDIES OF SILICON
حسب: King, R, وآخرون
منشور في: (1994)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM PROBE STUDIES OF METALLIC GLASSES
حسب: Bhatti, A, وآخرون
منشور في: (1985)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
حسب: Godfrey, T, وآخرون
منشور في: (1989)

Silicon and silicide nanowires : applications, fabrication, and properties /
حسب: Huang, Yu, editor, وآخرون
منشور في: (2014)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1992)

AN ATOM PROBE STUDY OF THE ANOMALOUS FIELD EVAPORATION OF ALLOYS CONTAINING SILICON
حسب: Miller, M, وآخرون
منشور في: (1981)

Study of Silicide Formation in Large Diameter Monocrystalline Silicon
حسب: Abdugafur T. Mamadalimov, وآخرون
منشور في: (2024-06-01)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1983)

Study of optical and luminescence properties of silicon — semiconducting silicide — silicon multilayer nanostructures
حسب: Galkin N.G., وآخرون
منشور في: (2017-01-01)

Properties of “Higher Manganese Silicide-Silicon” Heterostructure
حسب: Kobiljon K. ugli Kurbonaliev, وآخرون
منشور في: (2023-09-01)

Characterization of oxidation and reduction of a Palladium-Rhodium alloy by atom-probe tomography
حسب: Li, T, وآخرون
منشور في: (2012)

Characterization of Oxidation and Reduction of a Palladium-Rhodium Alloy by Atom-Probe Tomography
حسب: Li, T, وآخرون
منشور في: (2012)

Three-dimensional atomic mapping of ligands on palladium nanoparticles by atom probe tomography
حسب: Kyuseon Jang, وآخرون
منشور في: (2021-07-01)

AN ATOM PROBE STUDY OF THE ANOMALOUS EVAPORATION OF ALLOYS CONTAINING SILICON
حسب: Miller, M, وآخرون
منشور في: (1980)

In situ atomic-level observation of the formation of platinum silicide at platinum-silicon oxide interfaces under electron irradiation
حسب: Takeshi Nagase, وآخرون
منشور في: (2018-05-01)

FRACTURE OF FIELD-ION MICROSCOPE SPECIMENS
حسب: Wilkes, T, وآخرون
منشور في: (1972)

Pulsed Ion Microscope to Probe Quantum Gases
حسب: C. Veit, وآخرون
منشور في: (2021-02-01)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF NB3SN WIRES
حسب: Rose, J, وآخرون
منشور في: (1986)

Erbium silicided schottky source/drain silicon nanowire N-metal–oxide–semiconductor field-effect transistors
حسب: Tan, Eu Jin, وآخرون
منشور في: (2013)

THE CHARACTERIZATION OF SILICON SURFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE ANALYSIS
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1982)

INVESTIGATIONS OF METAL-SILICON INTERFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE.
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1983)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM-PROBE ANALYSIS OF THE EFFECT OF RRA HEAT-TREATMENT ON THE MATRIX STRENGTHENING PRECIPITATES IN ALLOY AL-7150
حسب: Warren, P, وآخرون
منشور في: (1992)

Development of metal silicides for deep submicron polycrystalline silicon gate
حسب: Pang, Chong Hau
منشور في: (2008)

Obtaining manganese silicide films on a silicon substrate by the diffusion method
حسب: N. F. Zikrillayev, وآخرون
منشور في: (2022-10-01)

Publisher Correction: Three-dimensional atomic mapping of ligands on palladium nanoparticles by atom probe tomography
حسب: Kyuseon Jang, وآخرون
منشور في: (2021-09-01)

Bringing atom probe tomography to transmission electron microscopes
حسب: Gerald Da Costa, وآخرون
منشور في: (2024-11-01)

Nanoscale Microstructural Analyses by Atom Probe Field Ion Microscopy
حسب: Hono, K., وآخرون
منشور في: (1998-01-01)

ANALOG INVESTIGATIONS OF ELECTRIC-FIELD DISTRIBUTION AND ION TRAJECTORIES IN FIELD-ION MICROSCOPE
حسب: Birdseye, P, وآخرون
منشور في: (1974)

A STUDY OF THE EARLY STAGES OF TEMPERING OF IRON-CARBON MARTENSITES BY ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY
حسب: Miller, M, وآخرون
منشور في: (1981)

ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY STUDY OF AGING BEHAVIOR OF A CO-FREE MARAGING-STEEL
حسب: Sha, W, وآخرون
منشور في: (1991)

Focused ion-beam specimen preparation for atom probe field-ion microscopy characterization of multilayer film structures
حسب: Larson, D, وآخرون
منشور في: (1999)

ANALYSIS OF DATA FROM AN OPTICAL ATOM-PROBE
حسب: Cooper, A, وآخرون
منشور في: (1994)

Controlled and explosive silicidation of metal/amorphous-silicon multilayer thin films
حسب: Clevenger, Lawrence Alfred
منشور في: (2005)

Vertical silicon nanowire diode with nickel silicide induced dopant segregation
حسب: Li, Xiang, وآخرون
منشور في: (2013)

Ni(Pt) alloy silicidation on (100) Si and poly-silicon lines
حسب: Pey, Kin Leong, وآخرون
منشور في: (2013)

OBTAINING A CATHODE TARGET OF SILICIDES FOR VACUUM ION-PLASMA SOURCES
حسب: I. A. Ivanov, وآخرون
منشور في: (2018-07-01)

Imaging of radiation damage using complementary field ion microscopy and atom probe tomography.
حسب: Dagan, M, وآخرون
منشور في: (2015)