ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON

ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON

Palladium silicide coated silicon specimens have been formed by thermally evaporating palladium onto clean field evaporated n-type silicon (100) tips. The thin palladium overlayer is reacted to form palladium silicide by thermal annealing at 675 K. The tips were studied by field ion imaging, pulsed...

Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:	King, R, Mackenzie, R, Smith, G, Cade, N
Médium:	Conference item
Vydáno:	1995

Podobné jednotky

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM-SILICIDE-COATED SILICON EMITTERS
Autor: King, R, a další
Vydáno: (1995)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE COATED SILICON EMITTERS
Autor: King, R, a další
Vydáno: (1994)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE ANALYSIS OF GRIDDED SILICON FIELD EMITTERS
Autor: Huang, M, a další
Vydáno: (1994)

ATOM-PROBE ANALYSIS AND FIELD-EMISSION STUDIES OF SILICON
Autor: King, R, a další
Vydáno: (1994)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM PROBE STUDIES OF METALLIC GLASSES
Autor: Bhatti, A, a další
Vydáno: (1985)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
Autor: Godfrey, T, a další
Vydáno: (1989)

Silicon and silicide nanowires : applications, fabrication, and properties /
Autor: Huang, Yu, editor, a další
Vydáno: (2014)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1992)

AN ATOM PROBE STUDY OF THE ANOMALOUS FIELD EVAPORATION OF ALLOYS CONTAINING SILICON
Autor: Miller, M, a další
Vydáno: (1981)

Study of Silicide Formation in Large Diameter Monocrystalline Silicon
Autor: Abdugafur T. Mamadalimov, a další
Vydáno: (2024-06-01)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1983)

Study of optical and luminescence properties of silicon — semiconducting silicide — silicon multilayer nanostructures
Autor: Galkin N.G., a další
Vydáno: (2017-01-01)

Properties of “Higher Manganese Silicide-Silicon” Heterostructure
Autor: Kobiljon K. ugli Kurbonaliev, a další
Vydáno: (2023-09-01)

Characterization of oxidation and reduction of a Palladium-Rhodium alloy by atom-probe tomography
Autor: Li, T, a další
Vydáno: (2012)

Characterization of Oxidation and Reduction of a Palladium-Rhodium Alloy by Atom-Probe Tomography
Autor: Li, T, a další
Vydáno: (2012)

Three-dimensional atomic mapping of ligands on palladium nanoparticles by atom probe tomography
Autor: Kyuseon Jang, a další
Vydáno: (2021-07-01)

AN ATOM PROBE STUDY OF THE ANOMALOUS EVAPORATION OF ALLOYS CONTAINING SILICON
Autor: Miller, M, a další
Vydáno: (1980)

In situ atomic-level observation of the formation of platinum silicide at platinum-silicon oxide interfaces under electron irradiation
Autor: Takeshi Nagase, a další
Vydáno: (2018-05-01)

FRACTURE OF FIELD-ION MICROSCOPE SPECIMENS
Autor: Wilkes, T, a další
Vydáno: (1972)

Pulsed Ion Microscope to Probe Quantum Gases
Autor: C. Veit, a další
Vydáno: (2021-02-01)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF NB3SN WIRES
Autor: Rose, J, a další
Vydáno: (1986)

Erbium silicided schottky source/drain silicon nanowire N-metal–oxide–semiconductor field-effect transistors
Autor: Tan, Eu Jin, a další
Vydáno: (2013)

THE CHARACTERIZATION OF SILICON SURFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE ANALYSIS
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1982)

INVESTIGATIONS OF METAL-SILICON INTERFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE.
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1983)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM-PROBE ANALYSIS OF THE EFFECT OF RRA HEAT-TREATMENT ON THE MATRIX STRENGTHENING PRECIPITATES IN ALLOY AL-7150
Autor: Warren, P, a další
Vydáno: (1992)

Development of metal silicides for deep submicron polycrystalline silicon gate
Autor: Pang, Chong Hau
Vydáno: (2008)

Obtaining manganese silicide films on a silicon substrate by the diffusion method
Autor: N. F. Zikrillayev, a další
Vydáno: (2022-10-01)

Publisher Correction: Three-dimensional atomic mapping of ligands on palladium nanoparticles by atom probe tomography
Autor: Kyuseon Jang, a další
Vydáno: (2021-09-01)

Bringing atom probe tomography to transmission electron microscopes
Autor: Gerald Da Costa, a další
Vydáno: (2024-11-01)

Nanoscale Microstructural Analyses by Atom Probe Field Ion Microscopy
Autor: Hono, K., a další
Vydáno: (1998-01-01)

ANALOG INVESTIGATIONS OF ELECTRIC-FIELD DISTRIBUTION AND ION TRAJECTORIES IN FIELD-ION MICROSCOPE
Autor: Birdseye, P, a další
Vydáno: (1974)

A STUDY OF THE EARLY STAGES OF TEMPERING OF IRON-CARBON MARTENSITES BY ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY
Autor: Miller, M, a další
Vydáno: (1981)

ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY STUDY OF AGING BEHAVIOR OF A CO-FREE MARAGING-STEEL
Autor: Sha, W, a další
Vydáno: (1991)

Focused ion-beam specimen preparation for atom probe field-ion microscopy characterization of multilayer film structures
Autor: Larson, D, a další
Vydáno: (1999)

ANALYSIS OF DATA FROM AN OPTICAL ATOM-PROBE
Autor: Cooper, A, a další
Vydáno: (1994)

Controlled and explosive silicidation of metal/amorphous-silicon multilayer thin films
Autor: Clevenger, Lawrence Alfred
Vydáno: (2005)

Vertical silicon nanowire diode with nickel silicide induced dopant segregation
Autor: Li, Xiang, a další
Vydáno: (2013)

Ni(Pt) alloy silicidation on (100) Si and poly-silicon lines
Autor: Pey, Kin Leong, a další
Vydáno: (2013)

OBTAINING A CATHODE TARGET OF SILICIDES FOR VACUUM ION-PLASMA SOURCES
Autor: I. A. Ivanov, a další
Vydáno: (2018-07-01)

Imaging of radiation damage using complementary field ion microscopy and atom probe tomography.
Autor: Dagan, M, a další
Vydáno: (2015)