ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON

ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON

Palladium silicide coated silicon specimens have been formed by thermally evaporating palladium onto clean field evaporated n-type silicon (100) tips. The thin palladium overlayer is reacted to form palladium silicide by thermal annealing at 675 K. The tips were studied by field ion imaging, pulsed...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:	King, R, Mackenzie, R, Smith, G, Cade, N
Định dạng:	Conference item
Được phát hành:	1995

Những quyển sách tương tự

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM-SILICIDE-COATED SILICON EMITTERS
Bằng: King, R, et al.
Được phát hành: (1995)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE COATED SILICON EMITTERS
Bằng: King, R, et al.
Được phát hành: (1994)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE ANALYSIS OF GRIDDED SILICON FIELD EMITTERS
Bằng: Huang, M, et al.
Được phát hành: (1994)

ATOM-PROBE ANALYSIS AND FIELD-EMISSION STUDIES OF SILICON
Bằng: King, R, et al.
Được phát hành: (1994)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM PROBE STUDIES OF METALLIC GLASSES
Bằng: Bhatti, A, et al.
Được phát hành: (1985)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
Bằng: Godfrey, T, et al.
Được phát hành: (1989)

Silicon and silicide nanowires : applications, fabrication, and properties /
Bằng: Huang, Yu, editor, et al.
Được phát hành: (2014)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1992)

AN ATOM PROBE STUDY OF THE ANOMALOUS FIELD EVAPORATION OF ALLOYS CONTAINING SILICON
Bằng: Miller, M, et al.
Được phát hành: (1981)

Study of Silicide Formation in Large Diameter Monocrystalline Silicon
Bằng: Abdugafur T. Mamadalimov, et al.
Được phát hành: (2024-06-01)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1983)

Study of optical and luminescence properties of silicon — semiconducting silicide — silicon multilayer nanostructures
Bằng: Galkin N.G., et al.
Được phát hành: (2017-01-01)

Properties of “Higher Manganese Silicide-Silicon” Heterostructure
Bằng: Kobiljon K. ugli Kurbonaliev, et al.
Được phát hành: (2023-09-01)

Characterization of oxidation and reduction of a Palladium-Rhodium alloy by atom-probe tomography
Bằng: Li, T, et al.
Được phát hành: (2012)

Characterization of Oxidation and Reduction of a Palladium-Rhodium Alloy by Atom-Probe Tomography
Bằng: Li, T, et al.
Được phát hành: (2012)

Three-dimensional atomic mapping of ligands on palladium nanoparticles by atom probe tomography
Bằng: Kyuseon Jang, et al.
Được phát hành: (2021-07-01)

AN ATOM PROBE STUDY OF THE ANOMALOUS EVAPORATION OF ALLOYS CONTAINING SILICON
Bằng: Miller, M, et al.
Được phát hành: (1980)

In situ atomic-level observation of the formation of platinum silicide at platinum-silicon oxide interfaces under electron irradiation
Bằng: Takeshi Nagase, et al.
Được phát hành: (2018-05-01)

FRACTURE OF FIELD-ION MICROSCOPE SPECIMENS
Bằng: Wilkes, T, et al.
Được phát hành: (1972)

Pulsed Ion Microscope to Probe Quantum Gases
Bằng: C. Veit, et al.
Được phát hành: (2021-02-01)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF NB3SN WIRES
Bằng: Rose, J, et al.
Được phát hành: (1986)

Erbium silicided schottky source/drain silicon nanowire N-metal–oxide–semiconductor field-effect transistors
Bằng: Tan, Eu Jin, et al.
Được phát hành: (2013)

THE CHARACTERIZATION OF SILICON SURFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE ANALYSIS
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1982)

INVESTIGATIONS OF METAL-SILICON INTERFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE.
Bằng: Grovenor, C, et al.
Được phát hành: (1983)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM-PROBE ANALYSIS OF THE EFFECT OF RRA HEAT-TREATMENT ON THE MATRIX STRENGTHENING PRECIPITATES IN ALLOY AL-7150
Bằng: Warren, P, et al.
Được phát hành: (1992)

Development of metal silicides for deep submicron polycrystalline silicon gate
Bằng: Pang, Chong Hau
Được phát hành: (2008)

Obtaining manganese silicide films on a silicon substrate by the diffusion method
Bằng: N. F. Zikrillayev, et al.
Được phát hành: (2022-10-01)

Publisher Correction: Three-dimensional atomic mapping of ligands on palladium nanoparticles by atom probe tomography
Bằng: Kyuseon Jang, et al.
Được phát hành: (2021-09-01)

Bringing atom probe tomography to transmission electron microscopes
Bằng: Gerald Da Costa, et al.
Được phát hành: (2024-11-01)

Nanoscale Microstructural Analyses by Atom Probe Field Ion Microscopy
Bằng: Hono, K., et al.
Được phát hành: (1998-01-01)

ANALOG INVESTIGATIONS OF ELECTRIC-FIELD DISTRIBUTION AND ION TRAJECTORIES IN FIELD-ION MICROSCOPE
Bằng: Birdseye, P, et al.
Được phát hành: (1974)

A STUDY OF THE EARLY STAGES OF TEMPERING OF IRON-CARBON MARTENSITES BY ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY
Bằng: Miller, M, et al.
Được phát hành: (1981)

ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY STUDY OF AGING BEHAVIOR OF A CO-FREE MARAGING-STEEL
Bằng: Sha, W, et al.
Được phát hành: (1991)

Focused ion-beam specimen preparation for atom probe field-ion microscopy characterization of multilayer film structures
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (1999)

ANALYSIS OF DATA FROM AN OPTICAL ATOM-PROBE
Bằng: Cooper, A, et al.
Được phát hành: (1994)

Controlled and explosive silicidation of metal/amorphous-silicon multilayer thin films
Bằng: Clevenger, Lawrence Alfred
Được phát hành: (2005)

Vertical silicon nanowire diode with nickel silicide induced dopant segregation
Bằng: Li, Xiang, et al.
Được phát hành: (2013)

Ni(Pt) alloy silicidation on (100) Si and poly-silicon lines
Bằng: Pey, Kin Leong, et al.
Được phát hành: (2013)

OBTAINING A CATHODE TARGET OF SILICIDES FOR VACUUM ION-PLASMA SOURCES
Bằng: I. A. Ivanov, et al.
Được phát hành: (2018-07-01)

Imaging of radiation damage using complementary field ion microscopy and atom probe tomography.
Bằng: Dagan, M, et al.
Được phát hành: (2015)