Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprog
Alle Felter
Titel
Forfatter
Fag
Klassifikationsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Find
Udvidet
AN ELECTRON-DIFFRACTION AND MI...
Citér dette
Stav dette
Email dette
Udskriv
Eksportér post
Eksportér til RefWorks
Eksportér til EndNoteWeb
Eksportér til EndNote
Permanent link
AN ELECTRON-DIFFRACTION AND MICROSCOPY INVESTIGATION OF QUASI-PERIODIC TA-AL SUPERLATTICES
Bibliografiske detaljer
Main Authors:
Jiang, S
,
Zou, J
,
Cockayne, D
,
Sikorski, A
,
Hu, A
,
Peng, R
Format:
Journal article
Udgivet:
1992
Beholdninger
Beskrivelse
Lignende værker
Medarbejdervisning
Lignende værker
MICROSTRUCTURAL OBSERVATIONS OF TA/AL SUPERLATTICES BY TEM
af: Jiang, S, et al.
Udgivet: (1992)
Diffraction behaviour of three-component Fibonacci Ta/Al multilayer films
af: Jiang, S, et al.
Udgivet: (1997)
PRECISE DETERMINATION OF THE PERIODICITY FOR MO/SI AND W/C METALLIC MULTILAYERS BY ELECTRON AND X-RAY-DIFFRACTION
af: Jiang, S, et al.
Udgivet: (1995)
Fracture properties of GaAs-AlAs superlattices studied by atomic force microscopy and scanning electron microscopy
af: Castell, M, et al.
Udgivet: (1998)
Electron crystallography : electron microscopy and electron diffraction /
af: 529189 Zou, Xiaodong, et al.
Udgivet: (2011)