Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprog
Alle Felter
Titel
Forfatter
Fag
Klassifikationsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Find
Udvidet
Electronic structure at realis...
Citér dette
Stav dette
Email dette
Udskriv
Eksportér post
Eksportér til RefWorks
Eksportér til EndNoteWeb
Eksportér til EndNote
Permanent link
Electronic structure at realistic Si(100)-SiO2 interfaces
Bibliografiske detaljer
Main Authors:
Giustino, F
,
Bongiorno, A
,
Pasquarello, A
Format:
Conference item
Udgivet:
2004
Beholdninger
Beskrivelse
Lignende værker
Medarbejdervisning
Lignende værker
Atomistic models of the Si(100)-SiO(2) interface: structural, electronic and dielectric properties
af: Giustino, F, et al.
Udgivet: (2005)
Atomic-scale modelling of the Si(100)-SiO(2) interface
af: Giustino, F, et al.
Udgivet: (2005)
Proton-induced fixed positive charge at the Si(100)-SiO2 interface.
af: Godet, J, et al.
Udgivet: (2007)
Modeling of Si 2p core-level shifts at Si-(ZrO(2))(x)(SiO(2))(1-x) interfaces
af: Giustino, F, et al.
Udgivet: (2002)
Infrared spectra at surfaces and interfaces from first principles: evolution of the spectra across the Si(100)-SiO2 interface.
af: Giustino, F, et al.
Udgivet: (2005)