Léim chuig an ábhar
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Teanga
Gach réimse
Teideal
Údar
Ábhar
Gairmuimhir
ISBN/ISSN
Clib
AIMSIGH
CASTA
Electronic structure at realis...
Luaigh é seo
Seol mar théacs é seo
Seol é seo mar r-phost
Priontáil
Easpórtáil taifead
Easpórtáil chuig RefWorks
Easpórtáil chuig EndNoteWeb
Easpórtáil chuig EndNote
Buan-nasc
Electronic structure at realistic Si(100)-SiO2 interfaces
Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoirí:
Giustino, F
,
Bongiorno, A
,
Pasquarello, A
Formáid:
Conference item
Foilsithe / Cruthaithe:
2004
Stoc
Cur síos
Míreanna comhchosúla
Amharc foirne
Míreanna comhchosúla
Atomistic models of the Si(100)-SiO(2) interface: structural, electronic and dielectric properties
de réir: Giustino, F, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2005)
Atomic-scale modelling of the Si(100)-SiO(2) interface
de réir: Giustino, F, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2005)
Proton-induced fixed positive charge at the Si(100)-SiO2 interface.
de réir: Godet, J, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2007)
Modeling of Si 2p core-level shifts at Si-(ZrO(2))(x)(SiO(2))(1-x) interfaces
de réir: Giustino, F, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2002)
Infrared spectra at surfaces and interfaces from first principles: evolution of the spectra across the Si(100)-SiO2 interface.
de réir: Giustino, F, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2005)