Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
Optical depth sectioning in th...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
Optical depth sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscope
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Behan, G
,
Nellist, P
Formaat:
Conference item
Gepubliceerd in:
2008
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Omschrijving
Samenvatting:
Gelijkaardige items
Optical sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscope
door: Behan, G, et al.
Gepubliceerd in: (2009)
Three-dimensional imaging and analysis by optical sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscopes
door: Nellist, P, et al.
Gepubliceerd in: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
door: Nellist, P, et al.
Gepubliceerd in: (2008)
Energy Filtered Scanning Confocal Electron Microscopy in a Double Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope
door: Wang, P, et al.
Gepubliceerd in: (2009)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
door: Nellist, P, et al.
Gepubliceerd in: (2008)