İçeriği atla
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Dil
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-B...
Alıntıla
Telefona gönder
E-posta Gönder
Yazdır
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
Kalıcı bağlantı
THEORETICAL ANALYSIS OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
Detaylı Bibliyografya
Yazar:
Cockayne, D
Materyal Türü:
Journal article
Baskı/Yayın Bilgisi:
1972
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Benzer Materyaller
WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
Yazar:: Cockayne, D
Baskı/Yayın Bilgisi: (1981)
PRINCIPLES AND PRACTICE OF WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON-MICROSCOPY
Yazar:: Cockayne, D
Baskı/Yayın Bilgisi: (1973)
Applications of the weak beam technique of electron microscopy
Yazar:: Cockayne, D
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)
DISLOCATIONS IN SEMICONDUCTORS AS STUDIED BY WEAK-BEAM ELECTRON-MICROSCOPY
Yazar:: Cockayne, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1979)
STUDY OF GUINIER-PRESTON ZONES IN ALUMINUM-COPPER ALLOYS USING WEAK-BEAM TECHNIQUE OF ELECTRON-MICROSCOPY
Yazar:: Yoshida, H, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1976)