توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)

Allen, C., Danaie, M., Warner, J., Batey, D., & Kirkland, A. (2023). Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: Beyond the detector limit. AIP Publishing.

توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)

Allen, CS, M. Danaie, JH Warner, DJ Batey, و AI Kirkland. Super-resolution Electron Ptychography of Low Dimensional Materials at 30 KeV: Beyond the Detector Limit. AIP Publishing, 2023.

توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)

Allen, CS, et al. Super-resolution Electron Ptychography of Low Dimensional Materials at 30 KeV: Beyond the Detector Limit. AIP Publishing, 2023.