Allen, C., Danaie, M., Warner, J., Batey, D., & Kirkland, A. (2023). Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: Beyond the detector limit. AIP Publishing.
Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)Allen, CS, M. Danaie, JH Warner, DJ Batey, και AI Kirkland. Super-resolution Electron Ptychography of Low Dimensional Materials at 30 KeV: Beyond the Detector Limit. AIP Publishing, 2023.
Παραπομπή σε μορφή MLA (9th εκδ.)Allen, CS, et al. Super-resolution Electron Ptychography of Low Dimensional Materials at 30 KeV: Beyond the Detector Limit. AIP Publishing, 2023.
Πρόσοχή: Οι παραπομπές μπορεί να μην είναι 100% ακριβείς.