Allen, C., Danaie, M., Warner, J., Batey, D., & Kirkland, A. (2023). Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: Beyond the detector limit. AIP Publishing.
Цитирование в стиле Чикаго (17-е изд.)Allen, CS, M. Danaie, JH Warner, DJ Batey, и AI Kirkland. Super-resolution Electron Ptychography of Low Dimensional Materials at 30 KeV: Beyond the Detector Limit. AIP Publishing, 2023.
Цитирование MLA (9-е изд.)Allen, CS, et al. Super-resolution Electron Ptychography of Low Dimensional Materials at 30 KeV: Beyond the Detector Limit. AIP Publishing, 2023.
Предупреждение: эти цитированмия не могут быть всегда правильны на 100%.