Allen, C., Danaie, M., Warner, J., Batey, D., & Kirkland, A. (2023). Super-resolution electron ptychography of low dimensional materials at 30 keV: Beyond the detector limit. AIP Publishing.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Allen, CS, M. Danaie, JH Warner, DJ Batey, và AI Kirkland. Super-resolution Electron Ptychography of Low Dimensional Materials at 30 KeV: Beyond the Detector Limit. AIP Publishing, 2023.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Allen, CS, et al. Super-resolution Electron Ptychography of Low Dimensional Materials at 30 KeV: Beyond the Detector Limit. AIP Publishing, 2023.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.