Optimal tilt magnitude determination for aberration-corrected super resolution exit wave function reconstruction.
Transmission electron microscope (TEM) images recorded under tilted illumination conditions transfer higher spatial frequencies than axial images. This super resolution information transfer is highly directional in a single image, but can be extended in all directions through the use of complementar...
Հիմնական հեղինակներ: | Haigh, S, Sawada, H, Kirkland, A |
---|---|
Ձևաչափ: | Journal article |
Լեզու: | English |
Հրապարակվել է: |
2009
|
Նմանատիպ նյութեր
-
Aberration Correction and Exit Wave Reconstruction Using Tilt Azimuth Data
: Kirkland, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2009) -
Exceeding conventional resolution limits in high-resolution transmission electron microscopy using tilted illumination and exit-wave restoration.
: Haigh, S, և այլն
Հրապարակվել է: (2010) -
Aberration corrected tilt series restoration
: Haigh, S, և այլն
Հրապարակվել է: (2008) -
Indirect transmission electron microscopy; Aberration measurement and compensation and exit wave reconstruction
: Kirkland, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2004) -
Super-resolution by aperture synthesis: tilt series reconstruction in CTEM
: Kirkland, A, և այլն
Հրապարակվել է: (1995)