Charge storage and tunneling mechanism of Ni nanocrystals embedded HfOx film

Charge storage and tunneling mechanism of Ni nanocrystals embedded HfOx film

A nano-floating gate memory structure based on Ni nanocrystals (NCs) embedded HfOx film is deposited by means of radio-frequency magnetron sputtering. Microstructure investigations reveal that self-organized Ni-NCs with diameters of 4-8 nm are well dispersed in amorphous HfOx matrix. Pt/Ni-NCs embed...

תיאור מלא

מידע ביבליוגרפי
Main Authors:	H. X. Zhu, T. Zhang, R. X. Wang, Y. Y. Zhang, L. T. Li, X. Y. Qiu
פורמט:	Article
שפה:	English
יצא לאור:	AIP Publishing LLC 2016-05-01
סדרה:	AIP Advances
גישה מקוונת:	http://dx.doi.org/10.1063/1.4948751

פריטים דומים

A self-rectifying HfOx-based unipolar RRAM with NiSi electrode
מאת: Tran, Xuan Anh, et al.
יצא לאור: (2013)

Effect of Ag Concentration Dispersed in HfOx Thin Films on Threshold Switching
מאת: Won Hee Jeong, et al.
יצא לאור: (2020-01-01)

HfOx/AlOy Superlattice‐Like Memristive Synapse
מאת: Chengxu Wang, et al.
יצא לאור: (2022-07-01)

Oxygen migration around the filament region in HfOx memristors
מאת: Ge-Qi Mao, et al.
יצא לאור: (2019-10-01)

CMOS friendly electrode material screening for HfOx-based RRAM
מאת: Yan, Haiping
יצא לאור: (2013)

Study of Multilevel High-Resistance States in HfOx-Based Resistive Switching Random Access Memory by Impedance Spectroscopy
מאת: Li, H. K., et al.
יצא לאור: (2016)

Conduction mechanisms in Ti/HfOx/Pt resistive switching memory device
מאת: Tan, Kuan Hong
יצא לאור: (2020)

Impact of Non‐Stoichiometric Phases and Grain Boundaries on the Nanoscale Forming and Switching of HfOx Thin Films
מאת: Niclas Schmidt, et al.
יצא לאור: (2024-04-01)

Role of interfacial layer on complementary resistive switching in the TiN/HfOx/TiN resistive memory device
מאת: Ang, Diing Shenp, et al.
יצא לאור: (2014)

The transport properties of oxygen vacancy-related polaron-like bound state in HfOx
מאת: Wang, Zhongrui, et al.
יצא לאור: (2014)

Resistive memory based on single-crystalline black phosphorus flake/HfOx structure
מאת: Xiaoyuan Yan, et al.
יצא לאור: (2020-07-01)

Enlarged read window in the asymmetric ITO/HfOx/TiN complementary resistive switch
מאת: Zhang, H. Z., et al.
יצא לאור: (2017)

Low-frequency noise in oxide-based (TiN/HfOx/Pt) resistive random access memory cells
מאת: Fang, Z., et al.
יצא לאור: (2013)

A self-rectifying and forming-free HfOx based-high performance unipolar RRAM
מאת: Yu, Hongyu, et al.
יצא לאור: (2013)

Granular magnetization switching in Pt/Co/Ti structure with HfOx insertion for in-memory computing applications
מאת: Jin, Tianli, et al.
יצא לאור: (2024)

Enhanced stability of complementary resistance switching in the TiN/HfOx/TiN resistive random access memory device via interface engineering
מאת: Ang, Diing Shenp, et al.
יצא לאור: (2016)

Improved reset breakdown strength in a HfOx-based resistive memory by introducing RuOx oxygen diffusion barrier
מאת: Jaesung Park, et al.
יצא לאור: (2016-05-01)

A self-rectifying unipolar HfOx based RRAM using doped germanium bottom electrode
מאת: Liu, W. J., et al.
יצא לאור: (2013)

Engineering Method for Tailoring Electrical Characteristics in TiN/TiOx/HfOx/Au Bi-Layer Oxide Memristive Devices
מאת: Seongae Park, et al.
יצא לאור: (2021-04-01)

Enhancement of spin-orbit torque in Pt/Co/HfOx heterostructures with voltage-controlled oxygen ion migration
מאת: Wu, Shuo, et al.
יצא לאור: (2023)

Rear surface passivation of ultra-thin CIGS solar cells using atomic layer deposited HfOx
מאת: Birant Gizem, et al.
יצא לאור: (2020-01-01)

Bipolar Resistive Switching Behavior of PVP-GQD/HfOx/ITO/Graphene Hybrid Flexible Resistive Random Access Memory
מאת: Jin Mo Kim, et al.
יצא לאור: (2021-11-01)

Multilayer redox-based HfOx/Al2O3/TiO2 memristive structures for neuromorphic computing
מאת: Seongae Park, et al.
יצא לאור: (2022-10-01)

Linear and symmetric synaptic weight update characteristics by controlling filament geometry in oxide/suboxide HfOx bilayer memristive device for neuromorphic computing
מאת: Dwipak Prasad Sahu, et al.
יצא לאור: (2023-06-01)

Author Correction: Multilayer redox-based HfOx/Al2O3/TiO2 memristive structures for neuromorphic computing
מאת: Seongae Park, et al.
יצא לאור: (2022-12-01)

An experimental study of lateral charge transfer in silicon nanocrystal layer embedded in SiO2 thin film
מאת: Wong, J. I., et al.
יצא לאור: (2015)

Self-Organized Ni Nanocrystal Embedded in BaTiO<sub>3</sub> Epitaxial Film
מאת: Ge FF, et al.
יצא לאור: (2010-01-01)

Scanning tunneling microscopy of MnOx ultrathin films on Au(111)
מאת: Chen, P, et al.
יצא לאור: (2023)

Designing of metallic nanocrystals embedded in non-stoichiometric perovskite nanomaterial and its surface-electronic characteristics
מאת: Jagadeesh Suriyaprakash, et al.
יצא לאור: (2017-08-01)

Charge storage in nanocrystal systems: Role of defects?
מאת: Kan, Eric Win Hong, et al.
יצא לאור: (2003)

Visualizing charge transport in silicon nanocrystals embedded in SiO2 films with electrostatic force microscopy
מאת: Lau, Hon Wu, et al.
יצא לאור: (2010)

Effect of Nb addition on the microstructure and martensitic transformation of NiTiHfScNb high temperature shape memory alloys
מאת: X.J. Zhou, et al.
יצא לאור: (2023-09-01)

Charging effect of Al2O3 thin films containing Al nanocrystals
מאת: Chen, X. B., et al.
יצא לאור: (2010)

Modeling of lateral charge transfer in Si nanocrystals in SiO2 thin film
מאת: Yu, Q., et al.
יצא לאור: (2013)

Fenofibrate Nanocrystals Embedded in Oral Strip-Films for Bioavailability Enhancement
מאת: Bhavesh D. Kevadiya, et al.
יצא לאור: (2018-02-01)

Formation, photoluminescence and charge storage characteristics of Au nanocrystals embedded in amorphous Al2O3 matrix
מאת: Yuan, C. L., et al.
יצא לאור: (2013)

Quasi-one-dimensional superconductivity in the pressurized charge-density-wave conductor HfTe3
מאת: Z. Y. Liu, et al.
יצא לאור: (2021-11-01)

Charging mechanism in a SiO2 matrix embedded with Si nanocrystals
מאת: Fu, Yong Qing, et al.
יצא לאור: (2010)

(Hf, Zr, Ta)O2 oxide whisker reinforced TiZrTaHfNb /Ti–28Ni /ZrO2 brazed joints by in-situ reaction: Microstructure and mechanical properties
מאת: Y.Z. Lei, et al.
יצא לאור: (2024-03-01)

Effect of excimer laser annealing on the silicon nanocrystals embedded in silicon-rich silicon nitride film
מאת: Chen, Rui, et al.
יצא לאור: (2013)