Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
Strain measurement using elect...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
Strain measurement using electron back scatter diffraction
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia:
Wilkinson, A
Formatua:
Conference item
Argitaratua:
1998
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Deskribapena
Gaia:
Antzeko izenburuak
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
nork: Wilkinson, A
Argitaratua: (1996)
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
nork: Wilkinson, A, et al.
Argitaratua: (2009)
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
nork: Wilkinson, A
Argitaratua: (1999)
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
nork: Wilkinson, A, et al.
Argitaratua: (2006)
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
nork: Wilkinson, A
Argitaratua: (2011)