Hoppa till innehåll
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Språk
Alla fält
Titel
Upphovsman
Ämne
Signum
ISBN/ISSN
Tagg
Sök
Avancerad
Strain measurement using elect...
Hänvisa
Textmeddelande
Skicka per e-post
Skriv ut
Exportera posten
Exportera till: RefWorks
Exportera till: EndNoteWeb
Exportera till: EndNote
Permanent länk
Strain measurement using electron back scatter diffraction
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsman:
Wilkinson, A
Materialtyp:
Conference item
Publicerad:
1998
Beståndsuppgifter
Beskrivning
Liknande verk
Katalogiseringsuppgifter
Beskrivning
Sammanfattning:
Liknande verk
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
av: Wilkinson, A
Publicerad: (1996)
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
av: Wilkinson, A, et al.
Publicerad: (2009)
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
av: Wilkinson, A
Publicerad: (1999)
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
av: Wilkinson, A, et al.
Publicerad: (2006)
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
av: Wilkinson, A
Publicerad: (2011)