Strain measurement using electron back scatter diffraction
מחבר ראשי: | Wilkinson, A |
---|---|
פורמט: | Conference item |
יצא לאור: |
1998
|
פריטים דומים
-
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
מאת: Wilkinson, A
יצא לאור: (1996) -
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
מאת: Wilkinson, A, et al.
יצא לאור: (2009) -
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
מאת: Wilkinson, A
יצא לאור: (1999) -
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
מאת: Wilkinson, A, et al.
יצא לאור: (2006) -
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
מאת: Wilkinson, A
יצא לאור: (2011)