Strain measurement using electron back scatter diffraction
Автор: | Wilkinson, A |
---|---|
Формат: | Conference item |
Опубліковано: |
1998
|
Схожі ресурси
Схожі ресурси
-
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (1996) -
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2009) -
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (1999) -
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2006) -
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2011)