Strain measurement using electron back scatter diffraction
প্রধান লেখক: | Wilkinson, A |
---|---|
বিন্যাস: | Conference item |
প্রকাশিত: |
1998
|
অনুরূপ উপাদানগুলি
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
অনুযায়ী: Wilkinson, A
প্রকাশিত: (1996) -
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2009) -
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A
প্রকাশিত: (1999) -
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2006) -
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A
প্রকাশিত: (2011)