Preskoči na sadržaj
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Sva polja
Naslov
Autor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Pronađi
Napredno
Strain measurement using elect...
Citiraj ovo
Pošalji tekstualnu poruku
Pošalji ovo e-mailom
Ispiši
Izvezi zapis
Izvezi u RefWorks
Izvezi u EndNoteWeb
Izvezi u EndNote
Stalna poveznica
Strain measurement using electron back scatter diffraction
Bibliografski detalji
Glavni autor:
Wilkinson, A
Format:
Conference item
Izdano:
1998
Primjerci
Opis
Slični predmeti
Prikaz za djelatnike knjižnice
Slični predmeti
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
od: Wilkinson, A
Izdano: (1996)
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
od: Wilkinson, A, i dr.
Izdano: (2009)
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
od: Wilkinson, A
Izdano: (1999)
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
od: Wilkinson, A, i dr.
Izdano: (2006)
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
od: Wilkinson, A
Izdano: (2011)