İçeriği atla
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Dil
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
Strain measurement using elect...
Alıntıla
Telefona gönder
E-posta Gönder
Yazdır
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
Kalıcı bağlantı
Strain measurement using electron back scatter diffraction
Detaylı Bibliyografya
Yazar:
Wilkinson, A
Materyal Türü:
Conference item
Baskı/Yayın Bilgisi:
1998
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Benzer Materyaller
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
Yazar:: Wilkinson, A
Baskı/Yayın Bilgisi: (1996)
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Yazar:: Wilkinson, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
Yazar:: Wilkinson, A
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Yazar:: Wilkinson, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2006)
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
Yazar:: Wilkinson, A
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)