Siirry sisältöön
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Kieli
Kaikki kentät
Nimeke
Tekijä
Aihe
Hyllypaikka
ISBN/ISSN
Tagi
Hae
Tarkennettu
Aberration corrected TEM: curr...
Sitaatti
Tekstiviesti
Lähetä sähköpostilla
Tulosta
Vie tietue
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Pysyvä linkki
Aberration corrected TEM: current status and future prospects
Bibliografiset tiedot
Päätekijät:
Kirkland, A
,
Haigh, S
,
Chang, L
Aineistotyyppi:
Conference item
Julkaistu:
2008
Saatavuustiedot
Kuvaus
Samankaltaisia teoksia
Henkilökuntanäyttö
Samankaltaisia teoksia
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
Tekijä: Hetherington, C, et al.
Julkaistu: (2008)
Aberration corrected tilt series restoration
Tekijä: Haigh, S, et al.
Julkaistu: (2008)
TOPICAL REVIEW: Present status and future prospects of spherical aberration corrected TEM/STEM for study of nanomaterials
Tekijä: Nobuo Tanaka
Julkaistu: (2008-01-01)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
Tekijä: Haigh, S, et al.
Julkaistu: (2011)
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
Tekijä: Hetherington, C, et al.
Julkaistu: (2006)