Агуулга руу алгасах
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Хэл сонгох
Бүх талбарууд
Гарчиг
Зохиогч
Сэдэв
Зохиогчийн тэмдэгт
ISBN/ISSN
Шошго
Хайх
Дэлгэрэнгүй
Aberration corrected TEM: curr...
Үүнийг ишлэх
Үүнийг мессежээр илгээх
Үүнийг цахим шуудангаар илгээх
Хэвлэх
Бүртгэлийг экспортлох
RefWorks руу экспортлох
EndNoteWeb руу экспортлох
EndNote руу экспортлох
Байнгын холбоос
Aberration corrected TEM: current status and future prospects
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Үндсэн зохиолчид:
Kirkland, A
,
Haigh, S
,
Chang, L
Формат:
Conference item
Хэвлэсэн:
2008
Түр хойшлуулсан зүйлс
Тодорхойлолт
Ижил төстэй зүйлс
Ажилтнуудыг харах
Ижил төстэй зүйлс
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
-н: Hetherington, C, зэрэг
Хэвлэсэн: (2008)
Aberration corrected tilt series restoration
-н: Haigh, S, зэрэг
Хэвлэсэн: (2008)
TOPICAL REVIEW: Present status and future prospects of spherical aberration corrected TEM/STEM for study of nanomaterials
-н: Nobuo Tanaka
Хэвлэсэн: (2008-01-01)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
-н: Haigh, S, зэрэг
Хэвлэсэн: (2011)
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
-н: Hetherington, C, зэрэг
Хэвлэсэн: (2006)