Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
Aberration corrected TEM: curr...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
Aberration corrected TEM: current status and future prospects
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Kirkland, A
,
Haigh, S
,
Chang, L
Định dạng:
Conference item
Được phát hành:
2008
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
Bằng: Hetherington, C, et al.
Được phát hành: (2008)
Aberration corrected tilt series restoration
Bằng: Haigh, S, et al.
Được phát hành: (2008)
TOPICAL REVIEW: Present status and future prospects of spherical aberration corrected TEM/STEM for study of nanomaterials
Bằng: Nobuo Tanaka
Được phát hành: (2008-01-01)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
Bằng: Haigh, S, et al.
Được phát hành: (2011)
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
Bằng: Hetherington, C, et al.
Được phát hành: (2006)