تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
Real-space Measurements of Bon...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
التنسيق:
Journal article
منشور في:
2009
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
الوصف
الملخص:
مواد مشابهة
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
حسب: Ciston, J, وآخرون
منشور في: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
حسب: Ciston, J, وآخرون
منشور في: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
حسب: Hetherington, C, وآخرون
منشور في: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
حسب: Hutchison, J, وآخرون
منشور في: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
حسب: Haigh, S, وآخرون
منشور في: (2011)