Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
المؤلفون الرئيسيون: | Ciston, J, Haigh, S, Kim, J, Kirkland, A, Marks, L |
---|---|
التنسيق: | Journal article |
منشور في: |
2009
|
مواد مشابهة
-
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
حسب: Ciston, J, وآخرون
منشور في: (2009) -
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
حسب: Ciston, J, وآخرون
منشور في: (2011) -
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
حسب: Hetherington, C, وآخرون
منشور في: (2005) -
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
حسب: Hutchison, J, وآخرون
منشور في: (2005) -
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
حسب: Haigh, S, وآخرون
منشور في: (2011)