Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
Real-space Measurements of Bon...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
Formatua:
Journal article
Argitaratua:
2009
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Antzeko izenburuak
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
nork: Ciston, J, et al.
Argitaratua: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
nork: Ciston, J, et al.
Argitaratua: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
nork: Hetherington, C, et al.
Argitaratua: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
nork: Hutchison, J, et al.
Argitaratua: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
nork: Haigh, S, et al.
Argitaratua: (2011)