Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
שפה
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Real-space Measurements of Bon...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
מידע ביבליוגרפי
Main Authors:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
פורמט:
Journal article
יצא לאור:
2009
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
מאת: Ciston, J, et al.
יצא לאור: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
מאת: Ciston, J, et al.
יצא לאור: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
מאת: Hetherington, C, et al.
יצא לאור: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
מאת: Hutchison, J, et al.
יצא לאור: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
מאת: Haigh, S, et al.
יצא לאור: (2011)