Пропуск в контексте
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Язык
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Real-space Measurements of Bon...
Цитировать
Отправить по sms
Отправить на Email
Печать
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Постоянная ссылка
Real-space Measurements of Bonding Charge Density in Aberration-corrected HREM
Библиографические подробности
Главные авторы:
Ciston, J
,
Haigh, S
,
Kim, J
,
Kirkland, A
,
Marks, L
Формат:
Journal article
Опубликовано:
2009
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Схожие документы
Real-space measurements of bonding charge density in aberration-corrected high resolution electron microscopy
по: Ciston, J, и др.
Опубликовано: (2009)
Optimized conditions for imaging the effects of bonding charge density in electron microscopy.
по: Ciston, J, и др.
Опубликовано: (2011)
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
по: Hetherington, C, и др.
Опубликовано: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
по: Hutchison, J, и др.
Опубликовано: (2005)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
по: Haigh, S, и др.
Опубликовано: (2011)