Structural characterisation of CNx thin films deposited by pulsed laser ablation

Carbon nitride (CNx) film growth by 193 nm pulsed laser ablation of graphite in a low pressure of N2 has been investigated both by studying optical emission from the plume and by analyses of the composition, structure and bonding of material deposited at a range of substrate temperatures. Spectral a...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Fuge, G, Rennick, C, Pearce, S, May, P, Ashfold, M
Ձևաչափ: Journal article
Լեզու:English
Հրապարակվել է: 2003