Przejdź do treści
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Język
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Etykieta
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
Atom probe tomography characte...
Cytować
Wyślij wiadomość
Wyślij emailem
Drukuj
Eksportuj rekord
Eksportuj do RefWorks
Eksportuj do EndNoteWeb
Eksportuj do EndNote
Odnośnik bezpośredni
Atom probe tomography characterisation of a laser diode structure grown by molecular beam epitaxy
Opis bibliograficzny
Główni autorzy:
Bennett, SE
,
Smeeton, T
,
Saxey, D
,
Smith, G
,
Hooper, SE
,
Heffernan, J
,
Humphreys, C
,
Oliver, R
Format:
Journal article
Wydane:
2012
Egzemplarz
Opis
Podobne zapisy
Wersja MARC
Opis
Streszczenie:
Podobne zapisy
Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells
od: Bennett, SE, i wsp.
Wydane: (2011)
Characterisation of compound semiconductors grown by molecular beam epitaxy
od: Zhang, Peng Hua
Wydane: (2009)
The structural characterisation of molecular beam epitaxy-grown exchange-biased bilayers
od: Choi, Y, i wsp.
Wydane: (2002)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
od: Lozano-Perez, S, i wsp.
Wydane: (2010)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
od: Lozano-Perez, S, i wsp.
Wydane: (2010)