বিষয়বস্তু এড়িয়ে যান
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
ভাষা
সমস্ত ক্ষেত্রসমূহ
আখ্যা
লেখক
বিষয়
ডাক সংখ্যা
আইসবিএন/আইএসএসএন
ট্যাগ
অনুসন্ধান
বিস্তৃত
Atom probe tomography characte...
সাইট করুন
এই পাঠটি
এই ই-মেইলটি
মুদ্রণ
নথি এক্সপোর্ট করুন
এক্সপোর্ট করুন RefWorks
এক্সপোর্ট করুন EndNoteWeb
এক্সপোর্ট করুন EndNote
স্থায়ী লিঙ্ক
Atom probe tomography characterisation of a laser diode structure grown by molecular beam epitaxy
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:
Bennett, SE
,
Smeeton, T
,
Saxey, D
,
Smith, G
,
Hooper, SE
,
Heffernan, J
,
Humphreys, C
,
Oliver, R
বিন্যাস:
Journal article
প্রকাশিত:
2012
হোল্ডিংস
বিবরন
অনুরূপ উপাদানগুলি
স্টাফেদের বিবরণ দেখুন
অনুরূপ উপাদানগুলি
Atom probe tomography assessment of the impact of electron beam exposure on InxGa1-xN/GaN quantum wells
অনুযায়ী: Bennett, SE, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2011)
Characterisation of compound semiconductors grown by molecular beam epitaxy
অনুযায়ী: Zhang, Peng Hua
প্রকাশিত: (2009)
The structural characterisation of molecular beam epitaxy-grown exchange-biased bilayers
অনুযায়ী: Choi, Y, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2002)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
অনুযায়ী: Lozano-Perez, S, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2010)
Atom-probe tomography characterization of the oxidation of stainless steel
অনুযায়ী: Lozano-Perez, S, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2010)