Depth sectioning using electron energy loss spectroscopy

Depth sectioning using electron energy loss spectroscopy

The continued development of electron probe aberration correctors for scanning transmission electron microscopy has enabled finer electron probes, allowing atomic resolution column-by-column electron energy loss spectroscopy. Finer electron probes have also led to a decrease in the probe depth of fo...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:	D'Alfonso, A, Cosgriff, E, Findlay, S, Kirkland, A, Nellist, P, Oxley, M, Allen, L
Định dạng:	Conference item
Được phát hành:	2008

Những quyển sách tương tự

Theoretical interpretation of electron energy-loss spectroscopic images
Bằng: Allen, L, et al.
Được phát hành: (2008)

Three-dimensional imaging and analysis by optical sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscopes
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2008)

Three-dimensional imaging using aberration-corrected scanning transmission and confocal electron microscopy
Bằng: Cosgriff, E, et al.
Được phát hành: (2008)

Three-dimensional imaging in double aberration-corrected scanning confocal electron microscopy, part I: elastic scattering.
Bằng: Cosgriff, E, et al.
Được phát hành: (2008)

Three-dimensional imaging in double aberration-corrected scanning confocal electron microscopt, Part I: elastic scattering
Bằng: Cosgriff, E, et al.
Được phát hành: (2008)

Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2008)

Three-dimensional imaging in double aberration-corrected scanning confocal electron microscopy, part II: inelastic scattering.
Bằng: D'Alfonso, A, et al.
Được phát hành: (2008)

Image Contrast in Aberration-Corrected Scanning Confocal Electron Microscopy
Bằng: Cosgriff, E, et al.
Được phát hành: (2010)

Simulating atomic resolution STEM images of non-periodic samples
Bằng: Findlay, S, et al.
Được phát hành: (2008)

Three-dimensional imaging by optical sectioning in the aberration-corrected scanning transmission electron microscope.
Bằng: Behan, G, et al.
Được phát hành: (2009)

Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2008)

Bloch wave analysis of depth dependent strain effects in high resolution electron microscopy
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2008)

Bright-field scanning confocal electron microscopy using a double aberration-corrected transmission electron microscope.
Bằng: Wang, P, et al.
Được phát hành: (2011)

A Bloch wave analysis of optical sectioning in aberration-corrected STEM.
Bằng: Cosgriff, E, et al.
Được phát hành: (2007)

Probing the bonding in nitrogen-doped graphene using electron energy loss spectroscopy.
Bằng: Nicholls, R, et al.
Được phát hành: (2013)

Prospects for 3D characterization of materials by aberration-corrected STEM and SCEM
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2007)

Measuring the hole-state anisotropy in MgB2 by electron energy-loss spectroscopy
Bằng: Klie, R, et al.
Được phát hành: (2003)

Nanohalos: a manifestation of electron channelling in gold nanoparticles.
Bằng: Ruben, G, et al.
Được phát hành: (2012)

Optical depth sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscope
Bằng: Behan, G, et al.
Được phát hành: (2008)

Forecasting of in situ electron energy loss spectroscopy
Bằng: Nicholas R. Lewis, et al.
Được phát hành: (2022-12-01)

Energy Filtered Scanning Confocal Electron Microscopy in a Double Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope
Bằng: Wang, P, et al.
Được phát hành: (2009)

Measuring the hole-state anisotropy in MgB2 by electron energy-loss spectroscopy
Bằng: Klie, Robert F., et al.
Được phát hành: (2011)

Electron energy loss spectroscopy of fullerene materials
Bằng: Nicholls, R
Được phát hành: (2006)

Electron energy-loss spectroscopy of autoionizing states of zinc
Bằng: Predojević B., et al.
Được phát hành: (2004-01-01)

Experimental Setup for Energy-Filtered Scanning Confocal Electron Microscopy (EFSCEM) in a Double Aberration-Corrected Transmission Electron Microscope
Bằng: Wang, P, et al.
Được phát hành: (2010)

Aberration-corrected electron microscopy processing and imaging of novel organic and inorganic nanostructures
Bằng: Nicolosi, V, et al.
Được phát hành: (2010)

Aberration-corrected electron microscopy processing and imaging of novel organic and inorganic nanostructures
Bằng: Nicolosi, V, et al.
Được phát hành: (2010)

Deterministic electron ptychography at atomic resolution
Bằng: D'Alfonso, A, et al.
Được phát hành: (2014)

Applications of the Oxford-JEOL aberration-corrected electron microscope
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2010)

Electron energy loss spectroscopy for differentiating of minerals polymorphs
Bằng: Roddatis Vladimir, et al.
Được phát hành: (2024-01-01)

Electron energy-loss spectroscopy of branched gap plasmon resonators
Bằng: Søren Raza, et al.
Được phát hành: (2016-12-01)

Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
Bằng: Kirkland, A, et al.
Được phát hành: (2008)

Comparison of simulation methods for electronic structure calculations with experimental electron energy-loss spectra.
Bằng: Arslan, I, et al.
Được phát hành: (2003)

Photoemission and electron-energy-loss-spectroscopy study of BaRuO3.
Bằng: Gulino, A, et al.
Được phát hành: (1995)

Automatic signal clasification of the Low-Loss Region in Electron Energy Loss Spectroscopy
Bằng: Costa-Ledesma Vanessa, et al.
Được phát hành: (2024-01-01)

Determination of the energy loss function of tungsten from reflection electron energy loss spectroscopy spectra
Bằng: Z. Li, et al.
Được phát hành: (2024-01-01)

Chapter 8 Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
Bằng: Kirkland, A, et al.
Được phát hành: (2008)

Direct observation of depth-dependent atomic displacements associated with dislocations in gallium nitride.
Bằng: Lozano, J, et al.
Được phát hành: (2014)

Quantitative techniques for aberration corrected HAADF STEM of nano-materials
Bằng: E, H, et al.
Được phát hành: (2012)

Graphene nanowalls formation investigated by Electron Energy Loss Spectroscopy
Bằng: Badri Vishal, et al.
Được phát hành: (2024-01-01)