Агуулга руу алгасах
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Хэл сонгох
Бүх талбарууд
Гарчиг
Зохиогч
Сэдэв
Зохиогчийн тэмдэгт
ISBN/ISSN
Шошго
Хайх
Дэлгэрэнгүй
Structural and electronic prop...
Үүнийг ишлэх
Үүнийг мессежээр илгээх
Үүнийг цахим шуудангаар илгээх
Хэвлэх
Бүртгэлийг экспортлох
RefWorks руу экспортлох
EndNoteWeb руу экспортлох
EndNote руу экспортлох
Байнгын холбоос
Structural and electronic properties of an abrupt 4H-SiC(0001)/SiO2 interface model: Classical molecular dynamics simulations and density functional calculations
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Үндсэн зохиолчид:
Devynck, F
,
Giustino, F
,
Broqvist, P
,
Pasquarello, A
Формат:
Journal article
Хэвлэсэн:
2007
Түр хойшлуулсан зүйлс
Тодорхойлолт
Ижил төстэй зүйлс
Ажилтнуудыг харах
Ижил төстэй зүйлс
Abrupt model interface for the 4H(1000)SiC-SiO2 interface
-н: Devynck, F, зэрэг
Хэвлэсэн: (2005)
Atomistic model of the 4H(0001)SiC-SiO2 interface: structural and electronic properties
-н: Devynck, F, зэрэг
Хэвлэсэн: (2007)
Atomistic model of the 4H(0001)SiC-SiO2 interface: Structural and electronic properties
-н: Devynck, F, зэрэг
Хэвлэсэн: (2007)
Atomic-scale modelling of the Si(100)-SiO(2) interface
-н: Giustino, F, зэрэг
Хэвлэсэн: (2005)
Electronic structure at realistic Si(100)-SiO2 interfaces
-н: Giustino, F, зэрэг
Хэвлэсэн: (2004)