Przejdź do treści
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Język
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Etykieta
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYS...
Cytować
Wyślij wiadomość
Wyślij emailem
Drukuj
Eksportuj rekord
Eksportuj do RefWorks
Eksportuj do EndNoteWeb
Eksportuj do EndNote
Odnośnik bezpośredni
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
Opis bibliograficzny
Główni autorzy:
Mackenzie, R
,
Liddle, J
,
Grovenor, C
,
Cerezo, A
Format:
Conference item
Wydane:
1990
Egzemplarz
Opis
Podobne zapisy
Wersja MARC
Podobne zapisy
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTORS
od: Cerezo, A, i wsp.
Wydane: (1986)
COMPOSITIONAL HOMOGENEITY OF METALORGANIC CHEMICAL VAPOR-DEPOSITION GROWN III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
od: Mackenzie, R, i wsp.
Wydane: (1991)
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
od: Grovenor, C, i wsp.
Wydane: (1987)
ULTRAHIGH RESOLUTION CHARACTERIZATION OF COMPOUND SEMICONDUCTORS USING PULSED LASER ATOM PROBE TECHNIQUES
od: Mackenzie, R, i wsp.
Wydane: (1991)
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF TERNARY AND QUATERNARY III-V EPITAXIAL LAYERS
od: Liddle, J, i wsp.
Wydane: (1988)