Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYS...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Mackenzie, R
,
Liddle, J
,
Grovenor, C
,
Cerezo, A
Médium:
Conference item
Vydáno:
1990
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTORS
Autor: Cerezo, A, a další
Vydáno: (1986)
COMPOSITIONAL HOMOGENEITY OF METALORGANIC CHEMICAL VAPOR-DEPOSITION GROWN III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
Autor: Mackenzie, R, a další
Vydáno: (1991)
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Autor: Grovenor, C, a další
Vydáno: (1987)
ULTRAHIGH RESOLUTION CHARACTERIZATION OF COMPOUND SEMICONDUCTORS USING PULSED LASER ATOM PROBE TECHNIQUES
Autor: Mackenzie, R, a další
Vydáno: (1991)
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF TERNARY AND QUATERNARY III-V EPITAXIAL LAYERS
Autor: Liddle, J, a další
Vydáno: (1988)