Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYS...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:
Mackenzie, R
,
Liddle, J
,
Grovenor, C
,
Cerezo, A
Formatua:
Conference item
Argitaratua:
1990
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Antzeko izenburuak
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTORS
nork: Cerezo, A, et al.
Argitaratua: (1986)
COMPOSITIONAL HOMOGENEITY OF METALORGANIC CHEMICAL VAPOR-DEPOSITION GROWN III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
nork: Mackenzie, R, et al.
Argitaratua: (1991)
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
nork: Grovenor, C, et al.
Argitaratua: (1987)
ULTRAHIGH RESOLUTION CHARACTERIZATION OF COMPOUND SEMICONDUCTORS USING PULSED LASER ATOM PROBE TECHNIQUES
nork: Mackenzie, R, et al.
Argitaratua: (1991)
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF TERNARY AND QUATERNARY III-V EPITAXIAL LAYERS
nork: Liddle, J, et al.
Argitaratua: (1988)